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Test technology committee
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1.
1979 Test Conference : digest of papers, October 23-25, 1979, held at Cherry Hill, New Jersey, LSI & Boards /
订购中
著者:
sponsored by IEEE Computer Society
Test Technology Committee and the Philadelphia Section of the IEEE.
出版社:
IEEE,
出版日期: 1979.
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2.
The three faces of test : design, characterization, production : International Test Conference, 1984 proceedings, October 16, 17, 18, 1984 /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
Test Technology Committee
IEEE Philadelphia Section.
出版社:
IEEE Computer Society Press,
出版日期: c1984.
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3.
Quality productivity profit : digest of papers : 1983 International Test Conference, November 15-18, 1983 /
订购中
著者:
presented by the Test Technology Committee
the International Test Formation [i.e. Foundation] ; sponsored by IEEE Computer Society
IEEE Philadelphia Section.
出版社:
IEEE Computer Society Press,
出版日期: c1983.
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4.
Quality productivity profit : digest of papers : 1982 International Test Conference, November 15-18, 1982 /
订购中
著者:
presented by the Test Technology Committee
the International Test Formation [i.e. Foundation] ; sponsored by IEEE Computer Society
IEEE Philadelphia Section.
出版社:
IEEE Computer Society Press,
出版日期: c1982.
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5.
Testing for the 80's : digest of papers /
订购中
著者:
1980 [eleventh] Test conference
November 11
12
13
1980
[Philadelphia] ; sponsored by IEEE computer society
Test technology committee
Philadelphia section of the IEEE.
出版社:
Institute of electrical and electronics engineers,
出版日期: ©1980.
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6.
Proceedings International Test Conference 1992 : [September 20-24, 1992, Convention Center, Baltimore, MD, USA] /
订购中
著者:
[sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section]
出版社:
The Conference ;
出版日期: c1992.
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7.
Proceedings : International Test Conference 1991, October 26-30, 1991, Opryland Hotel, Nashville, TN /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section.
出版社:
International Test Conference,
出版日期: c1991.
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8.
Proceedings : International Test Conference 1990, October 26-30, 1990, Sheraton Washington Hotel, Washington D. C. /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section.
出版社:
International Test Conference,
出版日期: c1990.
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9.
Proceedings : International Test Conference 1985, October 28-31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington D. C. /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section.
出版社:
International Test Conference,
出版日期: c1989.
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10.
Proceedings : International Test Conference 1988, October 27-30 1988, Sheraton Washington Hotel, Washington D. C. /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section.
出版社:
International Test Conference,
出版日期: c1988.
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