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Philadelphia
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1.
20th Annual Technical Conference : Atlantic City, New Jersey, January 27 - January 30, 1964 ; technical papers, vol. 10 /
订购中
著者:
[sponsored by the Philadelphia Section of SPE]
出版社:
[s.n.],
出版日期: 1964
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2.
Symposium on cleaning of electronic device components and materials /
订购中
著者:
presented in Philadelphia
Pa.
October 13 and 14
1958.
出版社:
American Society for Testing Materials,
出版日期: [1959]
文献类型:
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3.
Integration of test with design and manufacturing : proceedings : International Test Conference, 1987, September 1,2,3, 1987, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
IEEE Philadelphia Section.
出版社:
Computer Society Press of the IEEE ;
出版日期: c1987.
文献类型:
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4.
Testing's Impact On Design & Technology : proceedings : International Test Conference, 1986, September 8,9,10,11, 1986, Sheraton Washington Hotel, Washington, D.C. /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
IEEE Philadelphia Section.
出版社:
Computer Society Press of the IEEE ;
出版日期: c1986.
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5.
Testing for the 80's : digest of papers /
订购中
著者:
1980 [eleventh] Test conference
November 11
12
13
1980
[Philadelphia] ; sponsored by IEEE computer society
Test technology committee
Philadelphia section of the IEEE.
出版社:
Institute of electrical and electronics engineers,
出版日期: ©1980.
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6.
Symposium on elevated temperature strain gages /
订购中
著者:
sponsored by Aeronautical Structures Laboratory
Naval Air Material Center
Philadelphia
Pa.
Decmber 4-5
1957.
出版社:
American Society for Testing Materials,
出版日期: 1958.
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7.
Proceedings International Test Conference 1992 : [September 20-24, 1992, Convention Center, Baltimore, MD, USA] /
订购中
著者:
[sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section]
出版社:
The Conference ;
出版日期: c1992.
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8.
Proceedings : International Test Conference 1991, October 26-30, 1991, Opryland Hotel, Nashville, TN /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section.
出版社:
International Test Conference,
出版日期: c1991.
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9.
Proceedings : International Test Conference 1990, October 26-30, 1990, Sheraton Washington Hotel, Washington D. C. /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section.
出版社:
International Test Conference,
出版日期: c1990.
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10.
Proceedings : International Test Conference 1985, October 28-31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington D. C. /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section.
出版社:
International Test Conference,
出版日期: c1989.
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