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王儒全
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mos集成电路
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半导体器件-抗辐射性
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半导体器件-辐射效应
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抗辐射性-半导体器件
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硅中缺陷
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辐射效应-半导体器件
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著者
王儒全
(5)
上海无线电十九厂翻译组
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包宗明
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包宗明, 王儒全译
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沈忠
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王儒全, 上海无线电十九厂翻译组校
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王儒全审校
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王儒全等译
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王儒全译
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马志平
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马志平, 沈忠编译
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出版日期
1986
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1985
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1984
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1980
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1975
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文献类型
图书
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1.
RCA互补MOS集成电路手册
订购中
著者:
王儒全
出版社:
上海半导体器件研究所
出版日期: 1975
文献类型:
图书 , 索书号:
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内容简介
著者简介
2.
硅中缺陷与器件质量：半导体材料学进展译文集
订购中
著者:
王儒全
出版社:
轻工业出版社
出版日期: 1980
文献类型:
图书 , 索书号:
TN304/128
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内容简介
著者简介
3.
半导体器件的核辐射加固
订购中
著者:
包宗明
王儒全
出版社:
原子能出版社
出版日期: 1985
文献类型:
图书 , 索书号:
TN305/236
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著者简介
4.
TTL集成电路特性应用手册．续
订购中
著者:
王儒全
上海无线电十九厂翻译组
出版社:
上海市半导体器件研究所
出版日期: 1984.10
文献类型:
图书 , 索书号:
TN43/2121.2
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内容简介
著者简介
5.
声象设备与声象技术
订购中
著者:
马志平
沈忠
出版社:
上海市科技咨询服务中心情报中心
出版日期: 1986
文献类型:
图书 , 索书号:
TN946/141
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