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31.
著者: 王顺
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: TP311.55/120/V2/2014
32.
出版社: 人民体育出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: G884.1/124/2014
33.
第二代测序信息处理 已借11次.
著者: 布朗
出版社: 科学出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: Q78/430/2014
34.
著者: 常明旺
出版社: 中国质检出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: TU991.4/966.3/2014
35.
著者: 王顺
出版社: 清华大学出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: TP311.55/120/V1/2014
36.
著者: 于本海
出版社: 科学出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: TP311.55/153/2014
37.
集成电路芯片测试 已借7次.
出版社: 浙江大学出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/140/2014
38.
单元测试的艺术 已借81次.
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: TP311.55/213/2017
39.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2014
文献类型: 图书 , 索书号: TP311.55/021/2014